PyE
Los abogados de ZTE Corp fueron convocados el lunes a una corte federal de EE. UU. en Texas para una audiencia sobre si el fabricante chino de equipos de telecomunicaciones violó la libertad condicional en relación con una supuesta conspiración para cometer fraude de visas.
ZTE está en libertad condicional en los Estados Unidos después de declararse culpable en Dallas en 2017 por enviar ilegalmente tecnología estadounidense a Irán y Corea del Norte.
El presunto fraude de visa se deriva de un caso de 2021 en Atlanta, Georgia. ZTE no fue acusado en esa acusación.
Un exdirector de investigación de ZTE en Nueva Jersey y profesor del Instituto de Tecnología de Georgia supuestamente conspiró para traer ciudadanos chinos a Estados Unidos para realizar investigaciones en ZTE entre al menos 2014 y 2018, según la acusación.
Los ciudadanos chinos llegaron a Estados Unidos con visas J-1, diseñadas para trabajar y estudiar en instituciones como Georgia Tech, pero supuestamente realizaron investigaciones para ZTE en Nueva Jersey.
El profesor, Gee-Kung Chang, se declaró inocente. El estado del ex director de investigación de ZTE, Jianjun Yu, no está claro.
Las acciones de ZTE Corp tanto en Hong Kong como en Shenzhen cayeron más del 12 por ciento la semana pasada tras la noticia de la audiencia.
En un aviso del 4 de marzo a la bolsa de valores de Hong Kong, ZTE dijo que Yu dejó la empresa hace años y que ningún empleado actual había sido acusado en el caso de la visa. ZTE dijo que las actividades de producción y operación se estaban llevando a cabo con normalidad.
Un vocero del Fiscal de los EE. UU. en Atlanta, donde está pendiente el caso de la visa, se negó a comentar, al igual que un vocero del Departamento de Justicia de los EE. UU. en Washington. Un abogado de ZTE no respondió a una solicitud de comentarios.
ZTE pagó 892 millones de dólares y se declaró culpable en Texas en 2017 de cargos penales por violar las leyes estadounidenses que restringen la venta de tecnología fabricada en Estados Unidos.
(Reporte de Karen Freifeld en Nueva York; Editado por Matthew Lewis)
